簡(jiǎn)要描述:夏比沖擊試樣缺口測(cè)量方法TOP-IG是我公司根據(jù)GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》、ASTM E23中夏比沖試樣缺口的要求與廣大用戶(hù)的實(shí)際需求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比沖擊V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,交通,冶金,航天,汽車(chē) |
夏比沖擊試樣缺口測(cè)量方法
對(duì)于夏比沖擊V型缺口沖擊試驗(yàn),由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格(GB/T229-2007試樣缺口深2mm±0.075、45°角±2°且試樣缺口底部半徑要求R0.25±0.025mm)(ASTM E23試樣缺口深2mm±0.025、45°角±1°且試樣缺口底部半徑要求R0.25±0.025mm)、缺口對(duì)稱(chēng)面-試樣縱軸角度(標(biāo)準(zhǔn)要求90°±2°)等,故在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中,試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問(wèn)題,如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格,那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的,特別是R0.25mm缺口底部半徑微小變化(其公差只有0.025mm),都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的偏差,尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比沖擊V型缺口合格,其缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。用光學(xué)測(cè)量檢查是切實(shí)可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。TOP-IG是我公司根據(jù)GB/229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》、ASTM E23中對(duì)夏比沖擊試樣缺口的要求與廣大用戶(hù)的實(shí)際需求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比沖擊V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。
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